口腔執(zhí)業(yè)助理醫(yī)師考試中的知識(shí)點(diǎn)較多，以下是醫(yī)學(xué)教育網(wǎng)小編整理，希望對(duì)您有所幫助。

X線光檢查頜骨骨密度法:

X線光檢查頜骨骨密度法是依據(jù)骨量不同對(duì)X線吸收的差異，在X線片上形成不同灰度來測(cè)量BMD.將鋁制梯級(jí)與骨組織同時(shí)攝像，得到標(biāo)準(zhǔn)的X線片，通過已知鋁制梯級(jí)的密度和厚度，估算出被測(cè)骨的密度或骨礦含量。Kribbs等應(yīng)用顯微骨密度測(cè)量術(shù)研究下頜骨密度，即在定位根尖片方放置標(biāo)準(zhǔn)鋁制梯級(jí)，但此法不適合于無牙頜患者。Atwood和Cov用頭影測(cè)量片附加鋁制標(biāo)準(zhǔn)梯級(jí)測(cè)量頜骨密度。

 Horner和Delvin等則用曲面斷層片附加鎳制楔形梯級(jí)（0.0326～0.623mm），后者克服了鋁制梯級(jí)（4.5～8.0mm）較厚的缺點(diǎn)。但X線光密度法是間接測(cè)量法，受X線曝光條件、膠片質(zhì)量、沖洗條件等影響，精度不高。此外，這類方法輻射量較大，將三維結(jié)構(gòu)成像于二維平面上，敏感性亦較差。近年來，應(yīng)用計(jì)算機(jī)數(shù)字減影技術(shù)對(duì)定位根尖片進(jìn)行分析，有一定應(yīng)用價(jià)值，可重復(fù)投照，可對(duì)上下頜進(jìn)行局部的骨密度測(cè)定，有利于縱向觀察，檢測(cè)骨質(zhì)改變的靈敏度亦較高。但由于定位根尖片的投照區(qū)域、方法局限，影響了其適用范圍。