公衛(wèi)執(zhí)業(yè)醫(yī)師備考精華考點(diǎn)：t分布和假設(shè)檢驗(yàn)

2019-04-30 19:37 來源：

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【考頻指數(shù)】★★★★

【考點(diǎn)精講】

1.t分布特征

（1）單峰分布，以0為中心，左右對(duì)稱；

（2）自由度越小，峰部越矮，而尾翹得越高；

（3）當(dāng)自由度增大時(shí)，t分布逼近u分布（標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布），當(dāng)自由度無窮大時(shí)，t分布就是標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布；

（4）t分布是一簇曲線，自由度不同，曲線的形狀不同。

2.假設(shè)檢驗(yàn)步驟

（1）建立假設(shè)，確定檢驗(yàn)水準(zhǔn)：假設(shè)有兩種，一是無效假設(shè)或稱零假設(shè)H0；二是備擇假設(shè)H1。

（2）計(jì)算檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量；

（3）確定P值：將P值與預(yù)先規(guī)定的檢驗(yàn)水準(zhǔn)相比，做出推斷結(jié)論。當(dāng)P≤α時(shí)，拒絕H0，接受H1，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義；當(dāng)P＞α時(shí)，不拒絕H0，差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

【進(jìn)階攻略】檢驗(yàn)假設(shè)針對(duì)總體，而不是樣本。進(jìn)行假設(shè)檢驗(yàn)時(shí)，應(yīng)同時(shí)寫出H0和H1，H1為備擇假設(shè)，它的內(nèi)容反映了檢驗(yàn)的單、雙側(cè)。

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