《衛(wèi)生統(tǒng)計(jì)學(xué)》考點(diǎn)小結(jié)

1.定量資料的假設(shè)檢驗(yàn)方法：t檢驗(yàn)、Z檢驗(yàn)、卡方檢驗(yàn)等，等級(jí)資料：秩和檢驗(yàn)等級(jí)相關(guān)等。

2.習(xí)慣上將P≤0.05的事件，稱為小概率事件，表示在一次抽樣的實(shí)驗(yàn)或觀察中該事件發(fā)生的可能性很小，可視為不發(fā)生。

3.頻數(shù)表和頻數(shù)分布圖的主要用途是：

（1）揭示頻數(shù)分布的特征：集中趨勢(shì)和離散趨勢(shì)。

（2）揭示頻數(shù)分布的類型。

（3）便于發(fā)現(xiàn)極大或極小的可疑值。

4.標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的均數(shù)為0，標(biāo)準(zhǔn)差為1. 5.t檢驗(yàn)的應(yīng)用條件：

①要求樣本來自正態(tài)分布總體；

②兩樣本均數(shù)比較時(shí)，還要求兩樣本所屬總體的方差相等（即方差齊性）。

6.Ⅰ型錯(cuò)誤和Ⅱ型錯(cuò)誤

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