2024年口腔主治醫(yī)師考試要點:X線頭影測量分析
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X線頭影測量(cephalometrics),主要是測量X線頭顱定位照相所得的影像,對牙頜、顱面各標志點描繪出一定的線角進行測量分析,從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結(jié)構(gòu),使對牙頜、顱面的檢查、診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結(jié)構(gòu)中去。
X線頭影測量的作用:
1.研究顱面生長發(fā)育。
2.牙頜、顱面畸形的診斷分析。
3.確定錯(牙合)畸形的矯治設(shè)計。
4.研究矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態(tài)結(jié)構(gòu)變化。
5.外科正畸的診斷和矯治設(shè)計。
6.下頜功能分析。
經(jīng)典例題:
X線頭影測量可做如下分析,除了
A.顱面部生長發(fā)育
B.雙側(cè)髁突對稱性
C.牙、顱面畸形的診斷分析
D.外科正畸的診斷和分析
E.矯治前后,顱面結(jié)構(gòu)變化
【正確答案】B
【答案解析】X線頭影測量可做如下分析:①研究顱面生長發(fā)育:②牙、顱面畸形的診斷分析;③確定錯(牙合)畸形的矯治設(shè)計;④研究矯治過程中及矯治后的牙、頜、顱面形態(tài)結(jié)構(gòu)變化;⑤外科正畸的診斷和矯治設(shè)計;⑥下頜功能分析。
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